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產(chǎn)品中心測試系統(tǒng)致茂測試系統(tǒng)
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致茂58604雷射二極體燒機及可靠性測試系統(tǒng) 可提供燒機測試，信賴性測試與老化測試 支持自動電流控制模式（ACC）與自動功率控制模式（APC） 個別通道（Channel）驅(qū)動與量測 每個通道可供應(yīng)達500mA的電流 達125℃ 的精確溫度控制 個別模組（module）獨立操作
更新時間：2024-11-29
產(chǎn)品型號：58604
瀏覽量：1115
致茂Chroma 58620 激光半導體特性測試機 全自動化檢測邊射型激光半導體芯片 高精密及高容量載具設(shè)計 自動光纖耦合測試對位設(shè)計（Auto-alignment） AOI輔助定位，加速測試時間 共用載具設(shè)計可搭配燒機測試
更新時間：2024-11-29產(chǎn)品型號：58620瀏覽量：1040
致茂Chroma 7940 晶圓檢測系統(tǒng) 可同時檢測正反兩面晶圓 大可檢測6吋擴膜晶圓（檢測區(qū)域達8吋范圍 ） 可因應(yīng)不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測項目 上片后晶圓自動對位機制
更新時間：2024-11-29產(chǎn)品型號：7940瀏覽量：1322
Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統(tǒng) 58635-L光電組件晶圓LIV點測系統(tǒng) 58635-N光電組件近場量測點測系統(tǒng) 58635-F光電組件遠場量測點測系統(tǒng)
更新時間：2024-11-29產(chǎn)品型號：58635-L/N/F瀏覽量：1438
54100/54130/54180致冷芯片溫度控制器 54100致冷芯片溫度控制器 54130-27-12致冷芯片控制器 300W 54180-40-20致冷芯片控制器 800W
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